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Samstag, August 19, 2017
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bruker0116Control Halle 1, Stand 1630

Bruker präsentiert das optische 3D-Mikroskop „Contour Elite“ mit hoher Messgeschwindigkeit, Präzision und Reproduzierbarkeit. Völlig neuartig ist ein echtes Farbbild, dass in jedem einzelnen Punkt scharf ist und simultan mit der Oberflächentextur bis auf den Nanometer genau gemessen, dargestellt und überlagert werden kann.

Bislang war nur das Intensitätsbild bei einer Fokuseinstellung möglich. Es wurde durch das Messsignal überlagert, höher bzw. tiefer liegende Bereiche waren außerhalb des Fokus verwaschen. Das ist nun Vergangenheit und selbst komplexe Oberflächenstrukturen werden erwartungsgemäß dargestellt. Dank der neu entwickelten Beleuchtung und Softwarealgorithmen erfolgt die Aufnahme automatisch und funktioniert im gesamten Höhenmessbereich des Mikroskops – vom glatten Wafer über MEMS Strukturen bis zur Millimeter tiefen Schneidkante eines Werkzeugs.

Die Systeme der Produktfamilie basieren auf der unternehmenseigenen Hardware- und Software-Weißlichtinterferometrie-Technologie „Wyko“. Die Software Vision 64 bietet eine intuitive Benutzeroberfläche, die für unterschiedliche Nutzeranforderungen konfiguriert werden kann.
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Mi Sep 06 Kompakt Forum: Netzwerktechnik CC-Link IE Field Veranstalter: Mitsubishi Electric
Do Sep 07 Kompakt Forum: Programmierbare Automatisierungslösungen Veranstalter: Mitsubishi Electric
Do Sep 07 @09:00 Sicherheitstechnik in der Fluidik Veranstalter: Schmersal
Di Sep 12 @09:00 Risikobeurteilung gemäß Maschinenrichtlinie 2006/42/EG Veranstalter: Schmersal
Di Sep 12 @09:30 Funk als Trendthema in der Intralogistik und Industrie – Roadshow Veranstalter: Steute
Di Sep 12 @11:00 Infrarot Workshop Veranstalter: Optris und Roth