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microeps0215In vielen Bereichen werden immer höhere Anforderungen an die Qualität und das Erscheinungsbild der Oberfläche gestellt. So müssen beispielsweise Touchscreens von Smartphones oder Armaturen in Autos frei von Beschädigungen sein. Oftmals erfolgt die Inspektion dieser Teile per Sichtprüfung, wobei die Ergebnisse meist nicht eindeutig sind. Auf spiegelnden Oberflächen sind herkömmlichen Bildverarbeitungssystemen aber Grenzen gesetzt. Speziell für diese Oberflächen hat Micro-Epsilon das „Reflect Control Compact“ entwickelt.

Tagesform bzw. Ermüdung des Prüfpersonals führen ebenfalls zu schwankenden Prüfergebnissen. Insbesondere spiegelnde Oberflächen stellen sowohl die manuelle als auch die automatisierte Oberflächeninspektion vor große Herausforderungen. Mit dem Reflect Control Compact können die Messergebnisse dokumentiert und objektiv verglichen werden. Zusätzlich lassen sich für Prozessverbesserungen wichtige Rückschlüsse ziehen.

Das vollintegrierte System gibt es in zwei Ausführungen mit verschiedenen Messfeldern. Mit der 2D-Version werden Defekte auf spiegelnden Oberflächen erkannt. Die 3D-Version erlaubt zusätzlich die Vermessung spiegelnder Oberflächen mit Submikrometer-Genauigkeit. Das Gerät kann sowohl im Einzelbetrieb (z. B. Labor) verwendet als auch in eine Anlage integriert werden.

Alle Komponenten sind in einem kompakten Gerät mit höhenverstellbaren Füßen integriert. Im Gehäuse befinden sich ein Bildschirm zur Streifenprojektion sowie bis zu zwei Kameras. Um Fremdlichteinflüsse zu vermeiden, kann das Messfeld auf allen vier Seiten abgedunkelt werden. Die Bedienung erfolgt über einen touchfähigen Bildschirm bzw. über Maus und Tastatur, die über USB angeschlossen werden.

Über die Ethernet-Schnittstelle lässt sich das Gerät in Anlagen einbinden. Für die Triggerung steht ein Digital-I/O-Interface zur Verfügung. Über VGA kann ein externer Bedienmonitor angeschlossen werden. Die vorinstallierte Bedien- und Auswertesoftware zeigt in der 2D-Version Oberflächendefekte an. Die 3D-Version liefert eine Punktewolke. Die gewonnenen Daten können in Bildverarbeitungsprogrammen weiterverarbeitet werden.
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