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Mittwoch, Oktober 18, 2017
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mahr0214Control Halle 3, Stand 3102

Der Weißlichtinterferometer „Marsurf WM 100“ von Mahr eignet sich für schnelle Messungen von feinen und feinsten Oberflächendetails im Nanometerbereich. Durch das flächenerfassende Messverfahren lassen sich in nur wenigen Sekunden aussagekräftige topografische Messergebnisse der Oberflächenbeschaffenheit ermitteln. Eine  Auswertesoftware unterstützt die individuelle Darstellung der Messergebnisse und damit die Qualitätssicherung der Werkstücke.

Der optische Messplatz ist ein Weißlichtinterferometer mit einer Auflösung im Subnanometerbereich. Konzipiert ist er insbesondere für die Qualitätssicherung feinster technischer Oberflächen wie auf optischen Elementen oder ähnlichen polierten, spiegelnden Oberflächen. Im Einsatz ist das High-tech-Messsystem derzeit vorwiegend bei Herstellern sphärischer und asphärischer Linsen. Möglich sind Analysen der Oberflächen in 2D und 3D. Die sekundenschnellen Messungen machen es möglich, innerhalb des Fertigungsprozesses wesentlich mehr Werkstücke umfassender und zuverlässiger zu prüfen als mit traditionellen Prüfmethoden.

Das Marsurf WM 100 misst Topografie, Höhe, Form und Position an Oberflächenstrukturen und ermittelt sicher Rauheit, Fläche und Ebenheit. Es misst standardisierte 3D-Oberflächenparameter sowie 2D-Rauheitsparameter an frei wählbaren Linien, Flächen oder Flächenausschnitten. Durch das flächenerfassende Messverfahren erhalten die Nutzer aussagekräftige topografische Messergebnisse mikroskopischer Oberflächenstrukturen. Die kombinierte phasenschiebende und kurzkohärente Interferometrie bietet höchste Messpräzision auch über λ/2 Sprünge. Die Hochleistungsobjektive minimieren dabei optische Verzeichnungsfehler.
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