German Dutch English French Italian Japanese Portuguese Russian Spanish
Logo 2014
  • Messespecial zur EMO

    Die Welt der Metallbearbeitung trifft sich im September wieder in Hannover: Wir geben einen Vorgeschmack.

    Weiterlesen
  • Top Ten

    Hier finden Sie alle meistgelesenen Beiträge im Monat, im Jahr von 2010 bis heute

    Weiterlesen
  • Konfiguratoren

    Online-Produktfinder und -Tools zur Berechnung und Auslegung von Produkten für Ihre Konstruktion

    Weiterlesen
  • 1
Samstag, August 19, 2017
top ten
konfiguratoren
Fachgebiete Icon Special Icon Messen Icon Interview Icon Webcasts Icon
Literatur Icon News Icon Karriere Icon Veranstaltungen Icon Newsletter Icon

mahr0214Control Halle 3, Stand 3102

Der Weißlichtinterferometer „Marsurf WM 100“ von Mahr eignet sich für schnelle Messungen von feinen und feinsten Oberflächendetails im Nanometerbereich. Durch das flächenerfassende Messverfahren lassen sich in nur wenigen Sekunden aussagekräftige topografische Messergebnisse der Oberflächenbeschaffenheit ermitteln. Eine  Auswertesoftware unterstützt die individuelle Darstellung der Messergebnisse und damit die Qualitätssicherung der Werkstücke.

Der optische Messplatz ist ein Weißlichtinterferometer mit einer Auflösung im Subnanometerbereich. Konzipiert ist er insbesondere für die Qualitätssicherung feinster technischer Oberflächen wie auf optischen Elementen oder ähnlichen polierten, spiegelnden Oberflächen. Im Einsatz ist das High-tech-Messsystem derzeit vorwiegend bei Herstellern sphärischer und asphärischer Linsen. Möglich sind Analysen der Oberflächen in 2D und 3D. Die sekundenschnellen Messungen machen es möglich, innerhalb des Fertigungsprozesses wesentlich mehr Werkstücke umfassender und zuverlässiger zu prüfen als mit traditionellen Prüfmethoden.

Das Marsurf WM 100 misst Topografie, Höhe, Form und Position an Oberflächenstrukturen und ermittelt sicher Rauheit, Fläche und Ebenheit. Es misst standardisierte 3D-Oberflächenparameter sowie 2D-Rauheitsparameter an frei wählbaren Linien, Flächen oder Flächenausschnitten. Durch das flächenerfassende Messverfahren erhalten die Nutzer aussagekräftige topografische Messergebnisse mikroskopischer Oberflächenstrukturen. Die kombinierte phasenschiebende und kurzkohärente Interferometrie bietet höchste Messpräzision auch über λ/2 Sprünge. Die Hochleistungsobjektive minimieren dabei optische Verzeichnungsfehler.
weiterer Beitrag des Herstellers         Diese E-Mail-Adresse ist vor Spambots geschützt! Zur Anzeige muss JavaScript eingeschaltet sein!

Aktuelle Messespecials

Fachmessen im Überblick

Messekalender

Mo Di Mi Do Fr Sa So
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31

Nächste Veranstaltungstermine

Mi Sep 06 Kompakt Forum: Netzwerktechnik CC-Link IE Field Veranstalter: Mitsubishi Electric
Do Sep 07 Kompakt Forum: Programmierbare Automatisierungslösungen Veranstalter: Mitsubishi Electric
Do Sep 07 @09:00 Sicherheitstechnik in der Fluidik Veranstalter: Schmersal
Di Sep 12 @09:00 Risikobeurteilung gemäß Maschinenrichtlinie 2006/42/EG Veranstalter: Schmersal
Di Sep 12 @09:30 Funk als Trendthema in der Intralogistik und Industrie – Roadshow Veranstalter: Steute
Di Sep 12 @11:00 Infrarot Workshop Veranstalter: Optris und Roth