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Samstag, Dezember 16, 2017
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polytec0114mtControl Halle 1, Stand 1813

Mit dem optischen Messsystem „Top Map TMS-500“ von Polytec können Anwender neben der dreidimensionalen Oberflächencharakterisierung auch Ebenheits- und Parallelitätstoleranzen produktionsnah, schnell und mit hoher Wiederholpräzision überprüfen. Mit dem großflächig messenden Gerät lassen sich Proben auch unterschiedlichster Reflektivität bis zu einem Durchmesser von 46 mm in einer Einzelmessung vermessen.

Die hohe laterale Auflösung von ca. 26 µm stellt sicher, dass keine wichtigen Details übersehen werden. Der große vertikale Messbereich von 70 mm in Kombination mit dem Messprinzip der Weißlichtinterferometrie ermöglicht es zudem, tiefliegende Flächen und große Stufenhöhen mit hoher Wiederholpräzision und rückführbar zu charakterisieren. Die einfach zu bedienende mitgelieferte Mess- und Auswertesoftware wertet beispielsweise Stufenhöhen sowohl entlang eines Profilschnitts nach DIN ISO 5436-1 als auch flächig aus.

Routine-Messungen führt das TMS-500 dank der kundenspezifisch anpassbaren Softwareoberfläche schnell und automatisiert durch. Einfach integrierbar gestattet das Messsystem auf den Anwender zugeschnittene Messlösungen überall dort, wo es auf Qualitätssicherungankommt: im Messraum, produktionsnah oder direkt in der Produktionslinie.
weiterer Beitrag des Herstellers 
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